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[종합/포토] 특허청, 세계 최초로 중국-한국 특허공동심사 실시 및 상표·지재권 보호 협력 강화 합의
특허뉴스 이성용 기자 기사입력  2018/10/31 [11:06]


▲ 박원주 특허청장(왼쪽 2번째), 션창위 중국 국가지식재산권국장(왼쪽 1번째) 이 양국 협력에 관한 양해각서에 서명 후 기념촬영을 하고 있다     © 특허뉴스



박원주 특허청장은 10월30일 오후 4시 그랜드워커힐 호텔(서울시 광진구)에서 션창위 중국 국가지식산권국장과 회담을 갖고, 한·중 지재권 협력을 확대하기 위한 다양한 협력사업에 합의했다.
▲ 박원주 특허청장이 회담을 주재하고 있다     © 특허뉴스

▲ 회담전경     © 특허뉴스

▲ 박원주 특허청장(왼쪽 7번째), 션창위 중국 국가지식재산권국장(왼쪽 6번째) 등 관계자들이 회담 후 기념촬영을 하고 있다     © 특허뉴스





기사입력: 2018/10/31 [11:06]  최종편집: ⓒ 특허뉴스
 
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